Phasics利用其四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优良的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和高灵敏度（2 nm RMS）。这确保了UV镜头，表面和UV激光束测试的精确性。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。
SID4-UV 光学器件测量自适应光学
特点：
由于其独特的**技术技术，Phasics的SID4 UV波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：250x250测量点
2.高灵敏度：2nm
3.直接测量：测量光学元件和发散光无需中继透镜
4.高性价比：光束和透镜测量高性价比解决方案
应用：
SID4 UV紫外波前传感器提供应用：
紫外激光器：光束测试与校正
紫外镜头的质量控制：个镜头的MTF和畸变，容易且准确的离轴测量
表面检查：曲率半径，三维形状
SID4 UV产品参数：
波长范围 | 250 - 400 nm |
通光孔径 | 7.4 x 7.4 mm2 |
空间分辨率 | 29.6 μm |
采样点（相位/强度） | 250 x 250 (> 62 500 points) |
相位相对灵敏度 | 2 nm RMS |
相位精度 | 10 nm RMS |
动态范围 | 200 μm |
采样频率 | > 30 fps |
实时分析频率 | >2 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 45 x 30 x 100 mm |
重量 | ~250 g |
