首页参展厂商展商动态产品汇总技术文章快速采购通道我的商务中心
您现在的位置:网上粉体展 > 分析仪器设备频道 > 光学仪器及设备专场 > PHL残余应力测量仪
厂商性质:生产商
商品人气:568
联系人:销售部
查看联系方式
我要留言
PHL残余应力测量仪
产品型号:
供应商报价:面议
产地:日本
发布时间:2023-08-11
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 光学仪器及设备专场 > PHL残余应力测量仪
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

主要简介:

WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC等高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为****的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的机器,*适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。

主要特点:

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。

  • 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。

  • 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

  • 可测样品尺寸更大。

主要应用:

·光学零件(镜片、薄膜、导光板)

·透明成型品(车载透明零件、食用品容器)

· 透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC

· 透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)

· 有机材料(球晶、FishEve

技术参数

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa

2

测量波长

520nm543nm575nm

3

双折射测量范围

0-3500nm

4

测量*小分辨率

0.001nm

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

6

视野尺寸

33x40mm-240×320mm(标准)

7

选配镜头视野

3×4-12.9×17.2mm

8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制

测量案例:

关于我们 - 服务专区 - 法律声明 - 诚征合作 - 友情链接 - 广告服务 - 付款方式 - 联系我们

中国粉体网 网上粉体展 版权所有

Powdershow.com.cn Copyright(C)2002-2013,All Rights Reserved

版权所有 未经书面授权,所有页面内容不得以任何形式进行复制