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第二代OLED影像&寿命测试系统
产品型号:
供应商报价:面议
产地:韩国
发布时间:2023-08-18
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 半导体行业专用仪器专场 > 第二代OLED影像&寿命测试系统
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产品简介

M6000 PIXX(第二代)影像&寿命测试系统,在除了OLED之外,它还适用于QLED、Micro和Mini-LED等多种显示元件,在喷墨(Inkjet printing)等工艺开发中,可提供用于评估材料和器件结构所需的数据.

其特殊功能包括:

·用于显示器件长期影像&寿命测试的可扩展多通道系统.

·紧凑型12-bit高分辨率影像单元内置在每个测试通道中,带有V(λ)过滤器和快速自动对焦模块

·各种发光均匀性分析,包括标准9个区域的非均匀性和结构相似性(SSIM)

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