20/30 XL显微分光光度计的设计允许您测量具有微观特征的大尺度样品的光谱，图像，和薄膜厚度。“XL”代表“超大”，具有微观特征的大尺度样品是20/30 XL的样本类型。为满足您的需求，20/30 XL集成了光学、电子、光谱学和软件方面的**技术，以****的速度和能力提供**的性能。甚至CRAIC仪器的易用性得到了极大的改进，使其成为紫外-可见-近红外显微光谱学的佼佼者。
20/30 XL显微分光光度计允许您测量UV-visible-NIR范围内的透射，吸光度，反射率，发射和光致发光微光谱的特征，样品尺寸小于一微米的跨度。然而，根据仪器的配置，样品的大小基本上可以是无限的。现在你可以在**的平板显示器像素内绘制颜色变化，轻松测量300mm晶圆的薄膜厚度，或测量**艺术品的荧光。
同时，20/30 XL也可提供拉曼显微光谱，高分辨率紫外显微光谱，甚至近红外显微镜光谱的测量。
20/30 XL显微分光光度计使用简单，提供无损测量和****的光谱数据。
