PHL应力双折射仪器

PHL PA-micro显微型应力双折射仪

PHL应力双折射仪器简介：

应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

日本Photonic-lattice成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术**世界，并由此开发出的测量仪器。

PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro：