粉体行业在线展览
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布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!
先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。
技术指标:
Theta/theta 立式测角仪
2Theta角度范围:-110~168°
角度精度:0.0001度
Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管
探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器
仪器尺寸:1868x1300x1135mm
重量:770kg
应用
物相定性分析
结晶度及非晶相含量分析
结构精修及解析
物相定量分析
点阵参数精确测量
无标样定量分析
微观应变分析
晶粒尺寸分析
原位分析
残余应力
低角度介孔材料测量
织构及ODF分析
薄膜掠入射
薄膜反射率测量
小角散射
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能谱仪
ARL X'TRA Companion X射线衍射仪
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M