X射线仪器-探测器-北京美嘉图科技有限公司-产品详情

探测器

直接联系

北京美嘉图科技有限公司

美国

产品规格型号

参考报价：

面议

关注度：

786

产品介绍

仪器简介：

XR-100SDD 硅漂移探测器(SDD)是Amptek 公司X 光探测器系列的**成员，是一代革命性的产品。它性能高、尺寸小、低成本，使它成为OEM 制造商的理想选择，用于生产从手持式到台式分析仪器。硅漂移探测器(SDD)实现了极高计数率下优异的能量分辨率。同其它Amptek 公司生产的探测器一样，它被封装在TO-8 外壳内，所以它的波形因数可直接转换为现有系统所用，兼容Amptek 公司生产的所有配件。

规格：

Detector Type	Silicon Drift Detector (SDD)
Detector Size	25 mm²
Silicon Thickness	500 µm， See efficiency curves
Collimator	Multilayer， click here for more information
Energy Resolution @ 5.9 keV (⁵⁵Fe)	125 - 140 eV FWHM at 11.2 µ peaking time
Peak to Background	8200:1 (ratio of counts from 5.9 keV to 2 keV)
Background Counts	<3 x 10^-3/s， 2 keV to 150 keV
Detector Be Window Thickness	0.5 mil (12.5 µm)， See transmission curves
Collimator	Internal MultiLayer Collimator (ML). Click here for more information.
Charge Sensitive Preamplifier	Amptek custom reset preamplifier.
Gain Stability	<20 ppm/°C (typical)
XR100SDD Case Size	3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm) Click here for mechanical dimensions
XR100SDD Weight	4.4 ounces (125 g)
Total Power	<1 Watt
Warranty Period	1 Year
Typical Device Lifetime	5 to 10 years， depending on use
Operation conditions	0°C to +50°C
Storage and Shipping	Long term storage: 10+ years in dry environment Typical Storage and Shipping: -20°C to +50°C， 10 to 90% humidity non condensing

主要特点：

• 高计数率：500，000 CPS

• 在 5.9 keV 峰处分辨率可达136 eV 半峰宽

(FWHM)

• 高峰强:背噪 (P/B) 比:7000:1

• 7 mm2 × 450 μm

• 无需液氮

获取更多信息，请访北京美嘉图科技有限公司网站

产品咨询

探测器

北京美嘉图科技有限公司

请填写您的姓名：*

请填写您的电话：*

请填写您的邮箱：*

请填写您的单位/公司名称：*

请提出您的问题：*

您需要的服务：

询盘报价、价格查询

发送产品资料

与您电话联系

发送

中国粉体网保护您的隐私权：请参阅我们的保密政策来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。您继续访问我们的网站，表明您接受我们的使用条款