测厚仪-博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪O系列-安柏来科学仪器（上海）有限公司-产品详情

博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪O系列

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产品介绍

博曼O系列产品概述：

O系列采用毛细管光学结构，拥有精准的测试性能，同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号，可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器，在短时间内捕捉并处理大量数据，在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取精准的测量结果（准确性和重复性）。

该系列采用80μm毛细管光学结构，同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。O系列的相机具有更大的放大倍数，拥有45x视频放大和5x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近，所以使用时样品必须平整。

博曼O系列可满足以下类型用户的需求：

- 极小的样品，如半导体，连接器或PCB

- 需要测试多个样品的多个位置

- 需要测量非常薄的涂层（<100nm）

- 需要在短时间内完成测量（1-5秒）

- 符合IPC-4552A

博曼O系列产品参数：

类别

参数

元素测量范围：

X射线管：

探测器：

分析层数及元素数：

滤波器/准直器：

焦距：

数字脉冲器：

计算机：

相机：

电源：

重量：

可编程XY平台：

样品仓尺寸：

外形尺寸：

13号铝元素到92号铀元素

50 W钼钯射线管 80um毛细管光学结构

135eV及以上分辨率的硅漂移探测器

5层（4层+基材）每层可分析10种元素，成分分析*多可分析25种元素

2位置一次过滤器

固定焦距（0.1"）

4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正

英特尔，酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz)， 8GB DDR3 内存，微软 Windows 10 专业版， 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率，250X双摄像头或45X单摄像头

150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz

53kg

平台尺寸：15"x 13"| 行程：6"x 5"

高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：340mm（13"）

高度：450mm（18"），宽度：450mm（18"），深度：600mm（24"）

关于美国博曼：

美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。

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