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DIATEST内径表式测量系统
面议
地泰科盛
DIATEST内径表式测量系统
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特性
测置方法:比较法测量,:需要校准件。测头:带硬质合金测点,中心桥型构造可以自动定中心。测砧:硬质合金,半径为8.0mm,
测力:测力恒定,
手柄:多种手柄选择,具有隔热的特点,可减少温度对测置值的影响。
校准:环规或千分尺
附件:转角,深度延长杆,深度挡块等。
显示:显示装置连接孔径为中8h6,可连接指针表、数显表、
传感器等。
成套包舍:测头,测砧,延长杆,手柄,指示表,校准配件,木盒,扳手。
成套购买价格忧惠
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