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A3-SRmapping系列在线膜厚检测系统

A3-SRmapping系列在线膜厚检测系统

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参考报价：

面议

品牌：

昆山胜泽

型号：

A3-SRmapping系列在线膜厚检测系统

关注度：

56

产品介绍

1)和材料有关

2)测量基于Si02on si结构

3)测量基于对于500纳米Si02onSi结构，重复30次的1阶标准偏差

4)对于Si02on Si标准样品，每天测三次，取平均值，重复30天取1阶标准偏差

获取更多信息，请访昆山胜泽光电科技有限公司 网站

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A3-SRmapping系列在线膜厚检测系统

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