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晶圆厚度测量机

晶圆厚度测量机

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成都泰美克晶体技术有限公司

四川

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品牌:

泰美克

型号:

晶圆厚度测量机

关注度:

163

产品介绍

产品介绍

专用于弹夹式供料,自动上料、视觉定位、厚度测试,距离测试、自动下料的高精度晶圆厚度测试机,同时机器可满足百级无尘要求。

● 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测。

● 采用分光干涉法实现高度检测再现性。

● 可进行高速的即时研磨检测。

● 可穿越保护膜、观景窗等中间层的检测。

● 可对应长工作距离、且容易安裝于产线或者设备中。

● 可对应线上检测的外部信号触发需求。

● 采用*适合膜厚检测的独自解析演算法(已取得**)。

● 可自动进行膜厚分布制图(选配项目)。

产品规格

指标规格
膜厚测量范围0.1 μm ~ 1600 μm※1
膜厚精度±0.1% 以下
重复精度0.001% 以下
测量时间10msec 以下
测量光源半導体光源
测量口径φ27μm※2
WD3 mm ~ 200 mm
※1 随光谱仪种类不同,厚度测量范围不同※2 *小φ6μm
名称自动Mapping系统
样品台方式X-Y样品台
光学系测量探头 CCD相机
**晶圆尺寸150mm以下
晶圆角度补正
Pattern对准
晶圆厚度范围视分光干涉式晶圆厚度传感器的式样而定
设备尺寸1000mm×900mm×2000mm
设备重量750kg


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成都泰美克晶体技术有限公司

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