磁性芯片由于能够提供高速、低功耗的非易失性信息存储而被视为解决未来存储技术瓶颈的关键，性能的优异性与可靠性对整个电子设备的运行稳定和数据安全性至关重要。本产品采用三温抗磁性能测试装置，通过模拟不同温度条件下的磁场环境对芯片的性能和可靠性进行测试来确保芯片在多个极端环境下工作；内置精密的温度传感器实现高精度三温测试、磁场控制系统提供面内与法向平面的稳定可控磁场、无磁测试座和热流仪、电学源表搭建的测试环境可对芯片的磁学/电学性能进行无损、批量性的快速检测，在磁性芯片开发和生产过程中扮演着重要角色。