DPLS4000是一款基于高速数字采集卡和快γ探测器的正电子湮没寿命测量一体机设备。**在商业化正电子湮没寿命谱仪中实现了免调试、自稳定的功能。

通过测量正电子在材料中的湮没寿命的长短，DPLS4000可以表征材料中的微观结构缺陷。正电子进入材料后根据所处微电子环境的不同有着不同的寿命，材料中的缺陷孔洞越大，电子密度越小，相应的正电子寿命也就越长。

技术指标

1. 时间分辨率≤190ps（使用Na-22测量正电子湮没寿命谱）；   

2. 时间分辨率≤155ps（使用Co-60测量符合时间谱）；

3. 具有一键设置功能，自动设置所有测量参数，用户无需调试直接使用；

4. 具有自动校准功能，在测量过程中始终保持参数的稳定；

5.     能量分辨率≤3.5%@1.275MeV；

6. 时间采样率≥5G/SPS；

7. 幅度分辨率≥14位；

8. 典型阳极脉冲上升时间≤0.8ns；

9. 典型渡越时间分散≤0.37ns；

10. 具有示波器功能；

11. 能窗自动识别功能；

12. 闪烁体探测器溴化镧晶体尺寸≥Φ25mm x L15mm；

13. 探测器集成分压电路、磁屏蔽；

14. 典型计数率100-200cps；

15. 支持高计数率模式可达1000cps；

16. 采用Na-22放射源，活度≥20µCi。

产品特色

l 超高分辨：精选快γ探测器、高速数字采集卡，结合**信号处理算法，实现Co-60标定时间分辨率小于155ps，1.275MeV处能量分辨率小于3.5%，各项参数均达到行业**水平。

l 一机集成：DPLS4000使用模块化设计，将所有设备集成在机箱中，设备占地面积小，安装移动快捷，可以在各种场景中使用。

l 一键测量：利用AI算法实现自动设置，省去繁复的调试过程，消除使用门槛，真正让用户开机即用、一键测量。