x - 200提供了与其他品牌的高端分析仪相比，具有更高的分析速度及更高的检测精度。

它使用了像x - 300这样的高性能SDD，以及一个更标准的脉冲处理电子产品。x - 200具有与x - 300相同的高度优化的x光管和SDD探测器。

由于更快的分析速度和更高的检测精度，加上外形更加小巧，便携，x - 200正迅速成为废品处理和无损检测的选择。它可检测所有合金家族，包括铝合金。

对于地球化学应用，LODS大约比x - 300高1.5 x，它为土壤、环保、环境、勘探和采矿提供了相同的元素套件。

此外，为用户提供的SciAps经验应用程序也可以测试其他类型的材料，并生成自己的校准模型。

分析仪采用基本参数法（fundamental parameters）、康普顿标准化法（Compton Normalization）及经验系数法（empirical calibration）校正。符合美国EPA Method 6200使用规范要求。