粉体行业在线展览
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芯矽科技
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为半导体晶圆存储容器(FOUP)设计的自动化清洗设备,通过多槽化学清洗、超声波空化、喷淋漂洗、干燥等工艺,高效去除FOUP表面的油污、颗粒、氧化物及工艺残留物,适用于半导体制造、封装测试、先进研发实验室等场景,满足ISO 14644 Class 10洁净度要求。
核心优势
全自动智能化清洗
机器人上下料:集成机械臂自动抓取FOUP,实现全程无人化操作;
多槽联动设计:化学清洗→超声波清洗→喷淋漂洗→热风干燥,全流程闭环控制;
工艺参数可调:通过PLC+触摸屏编程,精准设置温度(20°C-80°C)、时间、超声波频率等参数。
高精度洁净度保障
UF级超纯水漂洗:配备0.1μm颗粒过滤器,杜绝二次污染;
PFA/PTFE耐腐蚀槽体:兼容HF、H2O2、DI Water等化学液,适应严苛清洗环境;
颗粒去除率≥99.99%:残留物≤0.03μm,满足先进制程需求(如5nm以下芯片)。
高效节能与安全合规
化学液循环系统:减少耗材消耗,降低运行成本;
低温干燥技术:避免FOUP变形或材质损伤;
SEMI S8/S2认证:防爆设计、泄漏检测、紧急停机功能,确保操作安全。
灵活适配性
兼容多种FOUP规格:支持12英寸、14英寸标准盒及定制尺寸;
模块化设计:可增配UV光照消毒、真空干燥等模块,满足特殊需求。
技术参数
参数类别 | 参数详情 |
---|---|
清洗对象 | 半导体FOUP(前开式统一晶圆盒)、存储卡匣、载具 |
兼容尺寸 | 12英寸、14英寸标准FOUP,可定制15英寸以上或异形盒体 |
清洗工艺 | 化学浸泡、超声波清洗(频率20-40kHz)、喷淋漂洗、热风/真空干燥 |
清洗精度 | 颗粒去除率≥99.99%,残留物≤0.03μm |
控制方式 | PLC+人机界面(HMI),支持远程监控与数据追溯 |
安全等级 | SEMI S8/S2合规,防爆设计(可选),化学液泄漏应急处理系统 |
电源/气源 | AC 380V/50Hz,N2/CDA/DI Water(根据工艺需求配置) |
应用场景
半导体制造:
光刻机配套FOUP清洗,避免光刻胶残留污染晶圆;
蚀刻后FOUP去污,防止交叉污染;
封装前FOUP清洁,提升芯片封装良率。
封装测试(OSAT):
存储卡匣清洗,确保多批次晶圆运输的洁净度;
老化FOUP翻新,延长设备使用寿命。
科研机构与实验室:
先进制程研发中FOUP的清洁验证;
第三代半导体(SiC/GaN)材料存储容器清洗。