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产品介绍

仪器简介：

XR-100SDD 硅漂移探测器(SDD)是Amptek 公司X 光探测器系列的**成员，是一代革命性的产品。它性能高、尺寸小、低成本，使它成为OEM 制造商的理想选择，用于生产从手持式到台式分析仪器。硅漂移探测器(SDD)实现了极高计数率下优异的能量分辨率。同其它Amptek 公司生产的探测器一样，它被封装在TO-8 外壳内，所以它的波形因数可直接转换为现有系统所用，兼容Amptek 公司生产的所有配件。

规格：

Detector Type	Silicon Drift Detector (SDD)
Detector Size	25 mm²
Silicon Thickness	500 µm， See efficiency curves
Collimator	Multilayer， click here for more information
Energy Resolution @ 5.9 keV (⁵⁵Fe)	125 - 140 eV FWHM at 11.2 µ peaking time
Peak to Background	8200:1 (ratio of counts from 5.9 keV to 2 keV)
Background Counts	<3 x 10^-3/s， 2 keV to 150 keV
Detector Be Window Thickness	0.5 mil (12.5 µm)， See transmission curves
Collimator	Internal MultiLayer Collimator (ML). Click here for more information.
Charge Sensitive Preamplifier	Amptek custom reset preamplifier.
Gain Stability	<20 ppm/°C (typical)
XR100SDD Case Size	3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm) Click here for mechanical dimensions
XR100SDD Weight	4.4 ounces (125 g)
Total Power	<1 Watt
Warranty Period	1 Year
Typical Device Lifetime	5 to 10 years， depending on use
Operation conditions	0°C to +50°C
Storage and Shipping	Long term storage: 10+ years in dry environment Typical Storage and Shipping: -20°C to +50°C， 10 to 90% humidity non condensing

主要特点：

• 高计数率：500，000 CPS

• 在 5.9 keV 峰处分辨率可达136 eV 半峰宽

(FWHM)

• 高峰强:背噪 (P/B) 比:7000:1

• 7 mm2 × 450 μm

• 无需液氮

获取更多信息，请访北京美嘉图科技有限公司网站

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