粉体行业在线展览
Alpha 9770 有图形晶圆缺陷检测设备
面议
清软微视
Alpha 9770 有图形晶圆缺陷检测设备
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有图形晶圆衬底/外延无损检测设备Alpha 9770:
适用于4、6、8英寸Si、SiC及LT Wafer等多种材料;
可针对半导体工艺制程中的COW及COT进行高效率、高精确度的缺陷检测;
采用先进的成像方式,即表面线阵快速扫描和高清面阵在线Review,确保了图像的清晰度和检测的全面性;
提供多倍率镜头选择,适应不同精度的检测需求。
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