粉体行业在线展览
Mu 9660 封测段缺陷检测设备
面议
清软微视
Mu 9660 封测段缺陷检测设备
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-多尺寸高精度缺陷检测:支持6"/8"晶圆(含碳化硅/Si/LT等材质),厚度覆盖150μm~1000μm;
-高吞吐设计:8英寸晶圆@2x镜达54WPH,6英寸@2x镜达100WPH;
-结合线阵扫描成像与实时对焦技术,确保成像清晰度与准确性>95%
-缺陷叠图分析:支持4次检测结果坐标对齐及正/背面数据关联,助力失效分析;
电脑组合体系VG42
UNI800C多物料配料控制仪
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
金属称重检测一体机
BSD-PB(气液法)
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0~10%糖度
三路浮子流量计 MFC-3F
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