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单点硅片寿命测试MDPpro晶圆片/晶锭寿命检测仪
产品型号:
供应商报价:面议
产地:德国
发布时间:2023-08-07
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 半导体行业专用仪器专场 > 单点硅片寿命测试MDPpro晶圆片/晶锭寿命检测仪
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

弗莱贝格的MDPpro(晶圆片/晶锭寿命检测仪)系列主要用于测量少子寿命、光电导率、电阻率和样品平整度及p/n检查等,其非接触式检测和无损成像(μPCD /MDP(QSS))的设计完全符合SEMI标准PV9-1110。这也使得该仪器在晶圆切割、炉内监控和材料优化等领域被广泛应用。可以说,MDPpro是晶锭生产商以及晶体炉技术生产商的标准仪器。

特性&优势▼

u 无接触和无破坏的半导体检测;

u 特殊underneath the surface”寿命测量技术;

u 对不可见缺陷的可视化测试具有很高灵敏度;

u 自动设置硅錠切割标准;

u 空间分辨p/n电导型变换检测;

u 多项数据同时自动检测扫描,5幅测量图形同时绘制;

u 坚固耐用的设计和易于设置的性能。安装,仅需要电源。

应用实例▼

1.日常寿命测量,质量控制和检验

高产量:>240块/天或>720片/天

测量速度:对于156x156x400mm标准晶锭,<4分钟

良品率提升:1mm切割标准为156x156x400mm标准晶锭

质量控制:用于过程和材料的质量监控,如单晶硅或多晶硅

沾污检测:起源于坩埚和生产设备的金属(Fe)

可靠性:模块化和坚固耐用的工业仪器,更高可靠性,运行时间> 99%

可重复性:> 99.5%

电阻率:可做面扫描,不需经常校准

2. 精密材料研发

a.铁浓度测定

b.陷阱浓度测定

c.硼氧测定

d.依赖于注入的测量等

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