粉体行业在线展览
面议
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仪器简介:
测量微区样品为主的多用途X射线衍射仪,使用大面积面探测器IP。
技术参数
1. X射线发生器功率可配3KW(X光管)及18KW(旋转阳极靶)
2. 使用大面积柱状二维面探IP,466mm x 256mm
范围为-60度 – +144度3. 一次收集2
4. 专用观察样品的CCD摄像头
5. 准直器包括800um、300um、100um、50um、30um、(选件10um)
6. 入射端前置单色器
7. 附件齐全
主要特点:
面探微区X射线衍射仪D/max RAPID可以测量无法成型的微小、微量、薄膜、液体等样品。
主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性
2. 薄膜样品的物相分析
3. 织构分析
4. 应力分析
5. 纤维分析
6. 高温测试
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Lattice 系列 高功率X射线
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逸出功能谱仪
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