仪器简介：

ZSX PrimusII是理学公司**奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。

ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。

可以对4Be到92U进行定性、定量分析。

元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。

可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。

可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。

技术参数

X射线发生器部分

X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW

高压发生器：高频变频方式

额定电压，电流：4kW，60kV-150mA

稳定度：±0.005%(对电源±10%变化时)

冷却水：水冷冷却水(内置)

分光部部分

样品交换器：可以选择12，24，36，48样品交换器

样品尺寸：φ51mmx40mm(H)

分析样品面：**φ35mm

样品旋转：30rpm

1次X射线滤波片：4种(Al，Ti，Cu，Zr)

视野限制光阑：6种自动交换机构(φ35，30，20，10，1，0.5 mm)

发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件)

接收狭缝：SC用，F-PC用

测角仪：θ-2θ独立驱动

测角范围：SC、5°-118°， F-PC、13°-148°

**扫描速度：1400°/min(2θ)

连续扫描：0.1-240°/min

晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构

分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25

(选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP

真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵)

粉末样品附件(选件)

氦气置换机构(选件)：带隔板

恒温化机构：36.5度

记数.控制部分：

重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps

轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps

芯线加热自动清洗机构

衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10)

计算机：windows PC

软件：

定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑，扣背景

定量分析：检量线法

JIS法

各种基体校正

无标样分析法

EZ扫描，应用模板，

样品径自动选择

谱峰分离

定精度测试

E-mail传送功能，多功能标准样品

其它选件

维护功能:

自动PHA调整(PAS)

全自动芯线清洗

自动老化

自动诊断

远程诊断

主要特点：

1、 大幅度提高了超轻元素(B，C)的分析灵敏度、准确度

使用理学**的强度**的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度

采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学**)

使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，*适合超轻元素分析

2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析

3、 强大的粉末样品测试功能

上照式，可以长时间防止粉末污染分光室

双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室

粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内

4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping(理学**)

5、 提高少量样品的分析准确度

使用r-θ样品台(理学**)，彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线*强、**条件下测量。

6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置

7、 48位自动进样器

8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学**)

ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学**)

可以保证仪器在**状态下使用

9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间

10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件

11、 先进的软件分析，NEW SQX软件

12、 全中文界面