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Filmetrics F3 薄膜厚度测量仪
经济适用的反射率测试系统
F3系统是专门为采集反射率光谱曲线设计的,并且可选配至厚度和指数测试功能,基本通用型拥有40000个小时适用寿命的光源及自动波长校准,大大提高了测试准确度。
快速厚度测试
升级厚度测试软件许可后,厚度值将在测试数据结果中直观的显示。软件中存入了常用的介质材料及半导体层的光学常数。
指数测试功能(n 和 k)
对于更高级用户来说, 指数测试软件升级能在短时间内提供折射率和消光系数。
Filmetrics的优势
桌面型薄膜厚度测量的全球***
24小时电话,Email,在线支持
直观的分析软件
附加特性
嵌入式在线诊断方式
免费离线分析软件
精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果
免费现场演示/支持
点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易
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