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KSI超声波扫描(SAM)

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新耕(上海)贸易有限公司

德国

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参考报价:

面议

关注度:

739

产品介绍

应用:

Material Science

Semiconductor—Ingots/Wafer/Packaging/PCBs/LEDs/Sensor/Other MEMS

Aerospace

Automotive

Pharma & Biotech

技术参数:

德国KSI提供了**的第二代超声波扫描(SAM), 拥有强大的设计应用团队,在超声波领域超过20年的经验。

其设备主要是针对半导体器件 ,芯片,材料内部的失效分析。其可以检查到材料内部的晶格结构,杂质颗粒,

夹杂物,沉淀物, 内部裂纹,分层缺陷,空洞,气泡及空隙等.

主要特点:

非破坏性、无损伤检测内部结构;

可分层扫描、多层扫描;

实施、直观的图像及分析;

缺陷的测量及百分比的计算;

可显示材料内部的三维图像;

对人体是没有伤害的;

可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等)

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