原理

1.*测量范围米氏透射基础理论HL系列激光粒度分布采用*测量范围米氏透射基础理论，充分考虑了助悬剂和待测颗粒的折光率，融合**的检测装置，依据大小不一的颗粒在各个角度上漫射光高的转变来反表演颗粒群的粒度分布大小粒度分析规律性;

2.HL系列激光粒度分析仪采用**的过来人线性拟合逆变技术方式、频带变大技术性，数据处理方法后可以获得更加真实的分布特征，针对高等院校、研究室等科学合理科研型顾客具备至关重要的实际意义;

3.HL纳米技术激光粒度分析仪采用企业****CR-128数据相关器。*内激光粒度仪公司，所有采用是指“静态数据光散射基础理论”，此理论测试的高效低限只有做到50纳米技术，针对较小的颗粒则束手无策。纳米技术颗粒检测务必采用“动态光散射”技术性，而实现此科技的关键构件--相关器一直由海外垄断性，HL纳米激光粒度分析仪先打破了此项技术的**垄断，为*内填了技术空白，可测试0.3-3600um大小的颗粒。

激光粒度仪是基于光衍射现象设计的，当光通过颗粒时产生衍射现象（其本质是电磁波和物质的相互作用）。衍射光的角度与颗粒的大小成反比。

不同大小的颗粒在通过激光光束时其衍射光会落在不同的位置，位置信息反映颗粒大小；同样大的颗粒通过激光光束时其衍射光会落在相同的位置。衍射光强度的信息反映出样品中相同大小的颗粒所占的百分比多少。

激光衍射法就是采用一系列的光敏检测器来测量位置粒径的颗粒在不同角度上的衍射光的强度，使用衍射模型，通过数学反演，然后得到样品的粒度分布。

通过该位置检测器接收到的衍射光强度，得到所对应颗粒粒径的百分比含量。

颗粒衍射光的强度对角度的依赖性是随着颗粒粒径的变小而降低，当颗粒小到几百纳米时，其衍射光强对于角度几乎失去依赖性，即此时的衍射光会分布在很宽的角度范围内，而且单位面积上的光强很弱，这增加了检测的难度。