在导电薄膜、光学涂层、柔性电子等领域，薄层电阻（面电阻）的精准检测是把控材料性能与产品品质的关键。日本 NAPSON（纳普逊）DUORES 手持式薄层电阻测量仪，凭借接触 / 非接触双探头可换、无损测量、便携高效的核心优势，成为 ITO 膜、Low-E 玻璃、石墨烯等材料研发标定、进厂检验与量产质控的全能设备，适配实验室、车间现场的高精度测量需求。

设备创新集成两大测量原理探头，无需多台仪器，一键切换即可覆盖全场景检测需求，为行业首创可换双探头手持式测量方案。

• 非接触式涡流探头（无损）：采用电磁涡流感应原理，零接触、零损伤样品，测量范围 0.5–200Ω/□，光斑 φ25mm，适配脆性薄膜、透明涂层、精密面板，适合大批量快速筛检。

• 接触式四探针探头（高精度）：经典四探针法，数据权威可溯源，测量范围 0.001–4000Ω/□，针距 3mm、测量区域 9mm，覆盖超低阻到高阻全量程，满足研发标定、质量仲裁需求。

• 整机采用轻量化手持设计，主机尺寸 W100×D32×H210mm，重量约 350g（不含电池），单手可轻松握持操作。搭载自动测量感应技术，探头轻触或放置样品表面即自动启动测量，无需繁琐按键，大幅提升检测效率。配备长续航电池，连续工作时长可达 24 小时，适配全天现场移动检测需求。

• 数据管理功能强大，4 位浮点数显示，支持 Ω/□、S/□、n/m（膜厚换算）三种单位一键切换，读数直观精准。机身可存储最大 50,000 组测量数据，实时显示最新 100 组，通过 USB-Mini 接口可快速导出数据至电脑，便于溯源存档与分析，完全契合工业品质管控规范。

• 设备适配各类薄型导电材料，广泛应用于 ITO/TCO 导电膜、Low-E 节能玻璃、碳纳米管、石墨烯、金属纳米线 / 网格薄膜等产品的检测，不受样品尺寸限制（大于探头光斑即可），薄膜、玻璃、纸张等基材均可测量。核心元器件稳定耐用，日常维护简单，长期使用精度无漂移，是导电材料与薄膜电子行业的标准配置仪器。