粉体行业在线展览
SAM 大视场扫描系统
面议
PVA TePla
SAM 大视场扫描系统
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SAM大视场系列是专门为分析DCB’s或电源模块而开发的产品系列,可支持检测扫描范围为300µm x 300µm到1300mm x 1300mm。多至8个传感器可实现超高检测通过率。该系统包括自动缺陷审查软件、GEM/SECS通讯,以及MES通讯。
激光打标站和分类输出端口可供选择。
PlasmaPen™ 大气式等离子系统
PlasmaPen™ 大气式等离子机
射频等离子机
IoN系列等离子系统
条形等离子系统 80 Plus
批量封装处理系统 等离子系统 GIGA690
单晶片系统
GIGAbatch 310M等离子系统
SAM 大视场扫描系统
PVA TePla SAM系列的超声波扫描显微镜
VPD量测系统
雷射量测系统