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一、概述
SE-VM 是一款超高精度快速测量光谱椭偏仪,其采用行业**的椭偏创新技术,具备 1 双旋转补偿器同步控制技术,2透明基底消背反技术等**技术。快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度,微光斑,可视化调平系统等高兼容性灵活配置,多功能模块定制化设计。
■ 高精度椭偏测量解决方案;
■ 超高精度、快速无损测量;
■ 支持多角度、微光斑、可视化调平系统功能模块灵活定制;
■ 丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力。
二、产品特点
■ 采用高性能进口复合光源,光谱覆盖可见到近红外范围 (380-1000nm),可支持扩展紫外到近红外范围 (193-2500nm)
■ 高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集;
■ 支持系列配置灵活,可根据不同应用场景支持多功能模块化定制;
■ 数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料;
三、产品应用
广泛应用于镀膜工艺控制、tooling校正等测量应用,实现光学薄膜、纳米结构的光学常数和几何特征尺寸快速的表征分析。
四、参数规格