粉体行业在线展览
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一、概述
SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成设计,使用简便,可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。
■ 超高性价比光学椭偏测量解决方案;
■ 紧凑集成化设计,**用户操作体验;
■ 一键快速测量分析,人机交互设计,使用便捷;
■ 丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力
二、产品特点
■ 采用高性能进口复合光源,光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm);
■ 高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集;
■ 数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料;
三、参数规格
四、产品应用
广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。