粉体行业在线展览
Saturn 3510
面议
中电科风华
Saturn 3510
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产品描述:应用于GaN外延片的自动化缺陷检测。设备采用点共焦旋转扫描的工作原理进行缺陷检测,可以自动实时对焦和多通道采集数据,具有低噪声和高分辨率成像等优势,采用基于深度学习的自动缺陷检测算法,晶圆检测与数据分析能够并行处理,满足4、6、8英寸晶圆的生产检测与器件良率提升的需求。
产品参数:
应用范围:GaN外延片自动化缺陷检测
可测晶片尺寸:4,6,8英寸
Mars 4400
PDI-10半导体检测设备
Mars 4410/Mars 4420
Saturn 3510
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