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上海桑结实业有限公司
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飞行时间法（TOF）测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键，TOF1000飞行时间测量系统基于脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.
原理图：
结构配置图：
测量软件：
XRD-晶向定位
CVD 真空化学气相沉积设备
等离子体增强化学气相沉积系统CVD
自动划片机
BTF-1200C-RTP-CVD
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定制-电浆辅助化学气相沉积系统-详情15345079037
HSE系列等离子刻蚀机
