粉体行业在线展览
XC4-E(KP+SHD+360)
面议
中科光电
XC4-E(KP+SHD+360)
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XC-E系列通过正面与侧面多角度同步成像,实现物料全视角检测,适用于坚果、籽仁和特种谷物的侧面瑕疵筛选。




LFS4(KP+SHD)
LFTS4(KP+SHD)
SY4(KP+SHD)
SY4 Ultra(KP+SHD)
XCS4-D(KP+SHD+3D)
XC4-E(KP+SHD+360)
XC4-H(KP+SHD+HSI)
LS-V2(KP+SHD)
LC2(KP+HD)
B6(A)
LY1(KP+SHD)
LI1(KP+HD+NIR)
TK花生云质选机
Aisort Aisort BS182V、BS122V、BS062V
KS4-1200
K型四组双层履带式彩色CCD色选机
DA MultiVision 色选机
TS系列
JTKS-256A
泰禾光电
FMS-2000
Msort AF&AK
MD-KD