粉体行业在线展览
XC4-H(KP+SHD+HSI)
面议
中科光电
XC4-H(KP+SHD+HSI)
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XC-H系列融合高光谱与可见光成像,可识别酸败、初期霉变和内部腐烂等分子级差异,拓展食品品质检测边界。




LFS4(KP+SHD)
LFTS4(KP+SHD)
SY4(KP+SHD)
SY4 Ultra(KP+SHD)
XCS4-D(KP+SHD+3D)
XC4-E(KP+SHD+360)
XC4-H(KP+SHD+HSI)
LS-V2(KP+SHD)
LC2(KP+HD)
B6(A)
LY1(KP+SHD)
LI1(KP+HD+NIR)