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PiSentinelPRO形状模块(PiSM)为激光衍射和其他仅尺寸的湿式悬浮技术增加了全面的颗粒形状分析能力。PiSM将报告多达30种不同的与形状相关的测量数据，包括尺寸，以及每个测量样本的图像，而
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348 | 北京 | 给我留言 |
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PiSentinelPRO是传统Pi仪器的新一代，是一种技术的动态图像分析仪，适用于颗粒形状的应用，而不仅仅是颗粒大小，可能是预测原材料质量的关键信息，并维持高水平的过程控制。颗粒形态提供了关于样品的
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682 | 北京 | 给我留言 |
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iPHEMOS-DD倒置微光显微镜是一款半导体失效分析系统，通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。利用其的倒置型设计，能够便捷地进行样品backside观察与
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388 | 北京 | 给我留言 |
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iPHEMOS-MP倒置微光显微镜是一款半导体失效分析系统，通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。利用其的倒置型设计，能够便捷地进行样品Backside观察与
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251 | 北京 | 给我留言 |
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PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光显微镜，通过侦测半导体缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。设备既可以与通用型探针台组合使用，也可搭载滨松TiltStage配合Nan
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242 | 北京 | 给我留言 |
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“Thermal-F1"是热发射显微镜的第二代产品。显微镜光学系统可以实现软件自动控制，在同类产品中拥有较佳灵敏度，高帧率锁定热成像（Thermal-lockin），测试领域能够广泛地覆盖从
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323 | 北京 | 给我留言 |
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发光材料以其荧光量子产率为特征。对于像有机和无机LED这样的发光器件，相应的物理值是外部量子效率，通常通过电致发光（EL）方法测量。为此，设计了外部量子效率测量系统C9920-12。
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232 | 北京 | 给我留言 |
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C9920-02G型量子效率测量系统采用了光致发光法（photoluminescence）来快速而准确地测定量子效率。该系统装置包括一个激发光源、一个单色仪、一个氮气流积分球和一个同步探测整个谱域的C
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229 | 北京 | 给我留言 |
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C9920-03G型量子效率测量系统采用了光致发光法（photoluminescence）来快速而准确地测定量子效率。该系统装置包括一个激发电源、一个单色仪、一个氮气流积分球和一个同步探测整个谱域的C
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233 | 北京 | 给我留言 |
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发光材料以其荧光量子产率为特征。对于像有机和无机LED这样的发光器件，相应的物理值是外部量子效率，通常通过电致发光（EL）方法测量。为此，设计了外部量子效率测量系统C9920-12。
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234 | 北京 | 给我留言 |
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C9920-03G型量子效率测量系统采用了光致发光法（photoluminescence）来快速而准确地测定量子效率。该系统装置包括一个激发电源、一个单色仪、一个氮气流积分球和一个同步探测整个谱域的C
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244 | 北京 | 给我留言 |
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品名/型式触屏式密充填容积密度测定仪（定容积）TVP-3A电源100伏·25安培·50/60赫兹测定容器容量①各种规格型号：例如：100毫升的金属制容器等②本公司标准规格：100毫升的金属制容器③定制
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317 | 日本 | 给我留言 |
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品名/型式密充填容积密度测定仪（定容积）VBD-3电源100伏・35瓦特（50/60赫兹）数字计时器**设定时间为99分59秒（可按秒级设定）尺寸本体：W200×D200×H310毫米重量本体：约6k
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318 | 日本 | 给我留言 |
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321 | 日本 | 给我留言 |
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307 | 日本 | 给我留言 |
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品名/型式JISR9301氧化铝比重测定仪电源不要目标样本氧化铝容器容量200毫升任何人都能轻松测量符合JIS规格的氧化铝的体积密度。
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301 | 日本 | 给我留言 |
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螺栓、紧固件喷涂特氟龙涂层，能够完美解决紧固件锈蚀、咬死、拆装卡滞、腐蚀失效等行业痛点，广泛适配化工、锂电、电镀、印染、半导体设备装配场景，其核心优势为：防卡死防咬死，拆装轻松无锁死特氟龙极低摩擦系数
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429 | 江苏常州 | 给我留言 |
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306 | 日本 | 给我留言 |
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品名/型式JISK6891/K6892カサ比重測定器（テフロン樹脂）電源不要対象サンプルテフロン樹脂（四ふっ化エチレン樹脂成形粉・四ふっ化エチレン樹脂ペースト押出成形粉）容器容量100mL寸法W130
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309 | 日本 | 给我留言 |
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332 | 日本 | 给我留言 |
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