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大尺寸、高精度、高反射率，国产光学COC/PC基材，适配大尺寸ARHUD，有效保证成像效果。L-MirrorS-MirrorSize>360mm>180mmPV<120um<5
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218 | 山东 | 给我留言 |
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高分辨率、高对比度、广色域、高亮度、多色温、小体积DLP4620DLP3020Brightness≥150lm(Typ.)≥100lm(Typ.)Resolution1358*556/1920*960
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217 | 山东 | 给我留言 |
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205 | 山东 | 给我留言 |
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186 | 山东 | 给我留言 |
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ProductName星际P51星际P31Panel2.24"FastLCD-Resolution2160*23123840*3552FoV100°95°TTL21.6mm21.7mm
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159 | 山东 | 给我留言 |
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星际C51星际C41星际C31Panel1.35"MicroOLED--Resolution3840*35523840*35523840*3552FoV110°105°95°TTL17.5m
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222 | 山东 | 给我留言 |
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行业领先的曲面贴膜工艺超小体积/轻量化MR定制星河LE51星河LE51-D星河LE52-DPanel1.03"MicroOLED1.03"MicroOLED0.68"Mi
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170 | 山东 | 给我留言 |
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Visum在线拉曼分析仪是一款先进的分析仪器，能够在数秒内快速、精确地提供多种物质和混合物定量和定性数据。该装置专为水介质定量分析设计，采用可适配管道、罐体和生物反应器的浸入探头，实现工业流程的无缝集
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369 | 西班牙 | 给我留言 |
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Visum近红外直线™是一种工业用近红外分析仪，设计用于直接在生产线上实时测量化学成分。它使制造商能够监控关键质量参数，及早发现偏差，并优化食品、饲料、化工和制药领域的工艺流程。该系统支持近红外和傅里
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483 | 西班牙 | 给我留言 |
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设备性能及技术参数：1.设备功能实现全自动对碳化硅、单晶硅、多晶硅、锗、砷化镓、蓝宝石、陶瓷板、手机面板玻璃、蓝玻璃、石英晶体片材等各种WAFER平板材料厚度等几何特征及电学参数的精确测量及记录。2.
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289 | 北京 | 给我留言 |
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TMI系列测厚仪主要用于对碳化硅、硅、锗、蓝宝石、砷化镓等半导体材料、陶瓷材料料、石英玻璃材料、金属材料等的厚度进行非接触精确测量。TMI系列测厚仪包括A、B、C及共三种型号，其中：TMI－A型主要用
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310 | 北京 | 给我留言 |
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测量原理本机采用白光共聚焦传感器扫描法进行表面形貌测量，经过测量可以得到Wafer的表面几何尺寸特征信息。功能设计本机主要用于测量碳化硅、蓝宝石、玻璃、砷化镓、磷化铟、硅、锗、金属、陶瓷等平板材料的微
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376 | 北京 | 给我留言 |
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>应用领域RGL系列气氛管式炉主要应用于半导体材料的扩散、氧化工艺；也可应用于玻璃对金属的封装焊接、石英制品的热处理、LED发光粉体材料的煅烧等工艺。>主要特点采用高纯石英管作为内炉膛，具
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412 | 安徽 | 给我留言 |
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一．仪器特点该仪器利用美国进口的先进高精度激光源进行设计，利用激光干涉方法对WAFER的平整度进行测量。该机器可广泛适用于对如下材料的晶片平整度测量：碳化硅、砷化镓、氮化镓、钽酸锂/铌酸锂、蓝玻璃、硅
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305 | 北京 | 给我留言 |
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测量原理激光干涉法适用范围可用于测量工件尺寸为Φ2---Φ8（INCH）直径的圆型晶片测量精度及量程1、关于厚度厚度量程：100---2000um，测量精度与WAFER表面光洁度有关，即：测量重复精度
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306 | 北京 | 给我留言 |
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测量精度：工件厚度的0.1%，即±2μm以内。适用领域：适合测量碳化硅、硅、锗、石英玻璃等硬度与石英水晶接近的晶体材料。本机可以在国产或进口的所有型号的研磨机上安装使用。设备硬件组成：本测厚仪由硬件和
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397 | 北京 | 给我留言 |
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ALC-2100型研磨测控仪通过监测压电材料（压电石英晶片）在研磨过程中的谐振频率从而控制对压电材料的研磨和抛光过程，当石英晶片达到所预置的目标频率时，研磨测控仪（ALC）将自动中断研磨或抛光过程。A
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313 | 北京 | 给我留言 |
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本测厚仪系统共由四大部分组成，在厚度精密研磨加工过程中进行厚度控制，从而实现研磨过程的自动化。应用范围：可用于对碳化硅、硅、锗、砷化镓、蓝宝石、钽酸锂、铌酸锂、光学水晶及光学玻璃等非金属贵重材料的厚度
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292 | 北京 | 给我留言 |
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特点及技术参数1．1设备主要特点介绍小型专用*本设备用于测量小型石英晶片的频率等参数，并进行自动分档，晶片最小尺寸：0.6×0.6mm。平台转动散料*摒弃了振动上料形式，采用平板料台匀速转动散料方式，
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378 | 北京 | 给我留言 |
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性能参数(Specification)ParameterValue分辨率（Resolution）0.05μm传感器重复性（Repeatability）0.20μm测量精度（Accuracy）±0.5μ
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323 | 北京 | 给我留言 |