BeNano 180 Zeta Max纳米粒度及Zeta电位仪中在0°角设置一个PD检测器，通过检测透射光的光强随时间的变化，检测沉降样品的粒度和粒度分布信息。沉降法得到的是颗粒的斯托克斯径，粒度测试的适合范围在几微米至几十微米，可以有效地弥补动态光散射对于大颗粒检测的限制。

在这篇应用报告中，使用丹东百特BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪检测了多种微米级粒径的样品的粒度信息并与激光衍射法对应粒径进行了比较。

原理

BeNano 180 Zeta Max纳米粒度及Zeta电位仪基于透射光路检测样品的透射光强度，然后基于斯托克斯方程

计算体系的粒径和粒径分布信息，测试需要对应温度下分散介质的折射率、密度和粘度信息、对应温度下颗粒物的折射率和密度和样品体积。

实验

实验中测试了三种材质微米级样品，分别是硅酸盐颗粒、PMMA颗粒和氧化铝颗粒，其信息如下表：

通过百特Bettersize2600激光粒度分析仪分别对样品进行了测试得到其D50值，通过BetterPyc 380多功能真密度仪检测了样品的密度信息。

将样品和水按照一定比例混合放入光程为10mm的方形玻璃样品池中进行测试，测试前恒温120秒，使样品达到平衡温度，然后利用移液枪将样品混合均匀开始收集信号。

结果分析和结论

图1. BeNano样品沉降法得到的D50粒径

与激光粒度仪得到的D50粒径对比曲线

表1. BeNano样品沉降法得到的D50粒径与激光粒度仪得到的D50粒径值表

通过图1和表1的曲线和数据可以看到，对于2-60μm范围内多种材质多种粒径的微米级样品，通过BeNano沉降法得到的斯托克斯径D50值与激光粒度仪得到的体积中径D50值一致性较好。这充分说明了BeNano沉降法对于微米级粒径的处理能力，有效地扩展了纳米粒度及Zeta电位仪的粒径测试范围和应用领域。