碳化硅超微粉碎实验:从2mm到D50<1μm的精密跨越
2025-09-09 来源:绵阳九方智能装备科技有限公司 >>进入该公司展台
一、实验背景与目的
碳化硅(SiC)作为第三代半导体材料,凭借其高硬度(莫氏硬度9.5)、高导热性(490 W/m·K)、卓越的耐高温性(熔点约2700℃)及强耐腐蚀性,在航空航天、新能源、半导体封装等高科技领域具有不可替代的地位。
近日,绵阳九方智能装备有限公司凭借自主研发的气流粉碎机,成功帮助客户完成了一项突破性实验:将<2mm的碳化硅原料精准粉碎至D50<0.9微米,以卓越的技术实力实现了从毫米级到亚微米的超微粉碎。

二、实验设备及优点
本次实验采用JFQ-100型气流粉碎机,该设备集成了超音速多喷嘴加速系统与高精度涡轮分级器,专门针对高硬度、高纯度材料的超微粉碎需求而设计。其核心优势在于:
1.粒径精准调控:采用智能变频分级系统,可实时动态调整分级轮转速,确保成品D50稳定<1微米;
2.耐磨抗污染设计:粉碎腔特制内衬,耐磨性提升300%,有效避免金属污染;

三、实验过程与数据
实验中,原料经预处理及精确给料控制,进入粉碎腔后在超音速气流作用下发生高频碰撞与摩擦。在30分钟连续运行下,最终经欧美克激光粒度分析仪检测:成品D50=0.83微米、D90=1.58微米的超细粉体,且粒度分布曲线呈正态分布,完全符合客户对半导体级碳化硅的严苛要求。


四、结语
绵阳九方始终专注超细粉体粉碎及分级技术研发、生产、销售、服务于一体,诚邀各行业伙伴携手合作,共同发展!免费试验热线:19183680777
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