所用设备
仪器:CTX(5Kg负载单元)
附件:2 mm Cylinder Probe (TA-39)
软件:Texture Pro软件

测试类型:Compression压缩
测前速度:0.5 mm/s
测试速度:1.0 mm/s
测后速度:4.5 mm/s
目标类型:Distance
目标距离:2 mm
触发负载:5 g
如下是一个典型的CTX质构仪测试谱图,显示了面饼的硬度,脆性等指标。

图1:粉饼穿刺测试曲线图(负载/时间)
硬度:测试过程中峰值最大力值;
第一断裂衰减:代表产品脆性的层次性,衰减越大说明脆性的层次感越弱;
断裂性:产品发生第一次断裂的力值,力值越大说明越不容易断裂。
测试结果如下:

通过图1可知,当探头向下运行直至达到粉饼表面的破裂点之前,应力一直处于上升的趋势;到达破裂点时,图中显示第一个应力峰值;穿透表面后,测量的力值稳步增加,直到测量到第二个峰值,峰值越大,说明粉末的致密程度越高。
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