产品介绍

日本 Oji Scientific Instruments（OSI，王子计测机器） 推出的 KOBRA‑HB 系列 位相差・椭圆偏振测量装置，是一款覆盖超低位相差到超高位相差全量程的高精度光学测量设备。作为 KOBRA‑W 系列的升级款，HB 系列在保持测量原理共通、配件通用的基础上，实现了测量范围扩展、体积紧凑化与长期稳定性的全面提升，可精准测定位相差、方位角及椭圆偏振参数，广泛适配光学材料、液晶面板、半导体、薄膜沉积等高端领域的研发与质控需求。

该设备采用 LED 或卤素光源作为标准配置，彻底免除传统卤素灯的频繁更换，大幅降低日常维护成本与耗材消耗。相比 KOBRA‑W 系列，HB 系列拥有更大的样品开口部，适配更广泛的样品尺寸，同时机身尺寸更紧凑（宽 300mm、深 700mm、高 500mm），节省安装空间，完美适配实验室及产线的有限空间布局。

核心优势

✅ 全量程覆盖：位相差测量范围从 2nm 以下（超低） 延伸至 20000nm（超高），覆盖从薄膜到厚材的全场景需求✅ 高精度稳定：方位角高精度化，低相位差分辨达 0.01nm，长期稳定性优异，数据精准可靠✅ 长效免维护：标配 LED / 卤素光源，无需更换光源灯泡，减少耗材与日常维护工作量✅ 全系列兼容：与 KOBRA‑W 系列共享样品支架与治具，无需额外投入，实现平滑升级与配置互通✅ 大开口易适配：相比 W 系列拥有更大开口部，适配 30mm 以上垂直入射样品及 30~40×50mm 的入射角依存样品✅ 紧凑省空间：相比 W 系列体积更小巧，安装灵活，适配各类实验室与产线工位

核心性能与规格

1. 型号与测量能力

KOBRA‑HB 系列包含 KOBRA‑HBR、KOBRA‑HBR/SPC、KOBRA‑HBPR、KOBRA‑HBPR/SPC 等型号，各机型对应不同测量侧重，可精准覆盖位相差、椭圆偏振、方位角等全维度检测：

• KOBRA‑HBR：适配位相差测定，覆盖约 5000nm 范围

• KOBRA‑HBR/SPC：宽范围位相差测定（分光模式，800~20000nm）

• KOBRA‑HBPR：椭圆偏振测定装置，支持宽范围位相差

• KOBRA‑HBPR/SPC：椭圆偏振测定（分光模式），搭配光纤分光系统，适配更多精密检测场景

2. 测量参数精度

• 测定波长：HB 系列支持 450、500、550、590、630、680nm 及 400~800nm 分光模式，覆盖可见光全波段

• 方位角 / 位相差：低相位差下分辨达 0.01nm，标准偏差低至 0.01~0.05，线速再现性优异

• 椭圆偏振：方位角分辨达 0.001°，偏振板轴角度分辨 0.001°，满足极精密光学测量要求

3. 样品与尺寸适配

• 样品尺寸：垂直入射对应 30mm 以上，入射角依存对应 30~40×50mm（厚度 3mm 以下），测定面积 33mm²

• 本体尺寸：宽 300mm × 深 700mm × 高 500mm，相比 KOBRA‑W 系列更紧凑，安装便捷

• 光源系统：标配 LED 或卤素光源，无需更换灯泡，降低运维成本

测量原理与系统优势

1. 核心测量方式

设备采用回转法、平行二色分光法等多种测量模式，通过偏光子、波长板、倾斜回转试料台等精密光学组件的协同作用，实现对样品位相差、方位角及椭圆偏振参数的高精度解析。KOBRA‑HBPR/SPC 机型更配备分光器与光纤系统，支持分光模式下的宽范围测量，适配更复杂的材料分析需求。

2. 系统对比优势

相比旧型机（KOBRA‑WR/WPR），HB 系列在光路设计、光源配置与自动化程度上全面升级：

• 采用中空结构与多电机协同控制，测量效率更高

• 光源切换更灵活，支持 LED / 卤素双选择，适配不同测试环境

• 倾斜回转试料台与固定试料台配合，实现多角度入射依存测量

• 数据采集与分析系统升级，图表直观呈现测量结果，便于研发分析与产线监控

适用场景

• 半导体与显示：液晶面板、偏光板、薄膜晶体管（TFT）的位相差与偏振角度精准测定

• 光学材料研发：光学薄膜、透镜、棱镜等材料的椭圆偏振与厚度分析

• 精密光学元件：相机镜头、光学玻璃的相位差检测与品质把控

• 科研实验：材料折射率、光学常数的高精度测量，支持样品开口部更大的实验需求