粉体行业在线展览
半导体芯片老化和逻辑测试系统
面议
上海翱晶
半导体芯片老化和逻辑测试系统
328
生产厂家:Aehr Test Systems
从工艺到生产的解决方案:
FOX-CP Single Wafer Stepping Test & Burn-In System
FOX-NP Dual WaferPak & Dual DiePak Test & Burn-In System
FOX-XP Multi WaferPak & Multi DiePak Test & Burn-In System
FOX-P WaferPak Contactors
FOX-P DiePak Carrier
电脑组合体系VG42
重量选别称
UNI800C多物料配料控制仪
配料计量系统
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
片式电容四参数测试机
0~10%糖度
三路浮子流量计 MFC-3F
Oilwear 在线油液清洁度检测仪
GJT-2F系列金属探测仪
YB-JZX小量程自动检重秤