粉体行业在线展览
半导体晶片倒角测量仪
面议
上海翱晶
半导体晶片倒角测量仪
384
产品特点:可在1台设备上实现对晶片边缘圆周部分、定位边和notch的形状以及尺寸等的测量
① 非接触式测量
② 可对应晶片直径:φ2”~φ12”
③ 可对应晶片厚度:200μm~1,500μm(需更换镜头)
④ 130万像素CCD黑白摄像头
⑤ 直径测量(可选功能)
电脑组合体系VG42
重量选别称
UNI800C多物料配料控制仪
配料计量系统
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
片式电容四参数测试机
0~10%糖度
三路浮子流量计 MFC-3F
Oilwear 在线油液清洁度检测仪
GJT-2F系列金属探测仪
YB-JZX小量程自动检重秤