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平坦度测量仪

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品牌：

上海翱晶

型号：

平坦度测量仪

关注度：

444

产品介绍

平坦度测量仪FT-900

测量晶片或磁盘等的翘曲、平坦度的设备



·可测量直径不超过200mm的样品。

·可对半导体晶片（硅、化合物、氧化物、玻璃）、硬盘驱动器上使用的磁盘（铝、玻璃）、

工业用金属片、任意形状的样品进行测量。

·无论样品为粗糙表面或光滑表面、透明物体或者样品上有开孔、形状不规则，都可以进行测量。

·通过相移法对激光斜入射干涉计产生的干涉条纹进行图像分析，以此实现对多种样品的数据测量。


获取更多信息，请访上海翱晶半导体科技有限公司 网站

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平坦度测量仪

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