粉体行业在线展览

产品

产品>

粉体测试设备>

比表面积测定仪

>JW-DX 400 比表面积测定仪

JW-DX 400 比表面积测定仪

JW-DX 400

直接联系

北京精微高博比表面测试仪

北京

产品规格型号
参考报价:

面议

品牌:

精微高博

型号:

JW-DX 400

关注度:

6640

产品介绍

DX 400

比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司***仪器DX400比表面积分析仪,测试准确、高效,一小时测试48个标准样品。非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。 在-196度低温液氮环境下,通入一定流量比例的氮氦混合气体,采用高精度热导池根据样品吸附氮分子前后的气体浓度变化,得到吸附峰或脱附峰,峰面积正比于氮气吸附量,应用直接对比法或BET理论计算出样品的比表面积大小



产品概览

DX400-JG

技术优越性

独有的Dtech技术融合了Dstable稳定测试技术、Dcal自动校正技术、Dtrap精确测试技术、Dsignal高效测试技术及Dctrl防抽飞控制技术,使得DX 400系列的测试效率极高、测试结果的重复性、稳定性、准确性、平行性均达到行业**水平,尤其是对比表面积小于1 m2/g的样品。

DX400技术优越性

产品特点

***技术

不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算,完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定;(**号20140320453.2)

Dstable稳定测试技术

采用独有的Dstable稳定测试技术确保仪器测试过程中TCD信号不受液氮面变化的影响,保证测试结果的重复性和稳定性。

Dcal自动校正技术

采用便捷的Dcal自动校正技术确保仪器生命周期中TCD信号变化不影响测试结果,保证仪器生命周期中测试结果的重复性和稳定性。

Dtrap精确测试技术

采用独有的Dtrap精确测试技术确保测试过程中TCD信号的控制精度达0.1mV,且不受环境影响,保证测试结果的准确性。

Dsignal高效测试技术

采用独有的Dsignal高效测试技术实现单点BET测试结果在5min内高效完成,测试效率**达5min测试4个样品。

Dctrl防吹飞控制技术

采用独有的Dctrl防吹飞控制技术,避免测试过程中因样品吹飞导致的仪器气路污染,保护仪器运行安全,延长仪器的生命周期。

安全防护机制

为保证仪器的运行安全,
(1)TCD增加尾流传感器,防止TCD干烧,保证TCD信号的稳定性,同时延长TCD的使用寿命。
(2)开发出底层的监护程序,监控仪器的运行状况,当仪器出现异常等危险时,自动控制仪器,解除产生危险的异常状况,保护仪器和操作人员的安全。

多种杜瓦瓶可选

高性能真空玻璃内胆杜瓦瓶,采用自主研发工艺定制生产,既有玻璃内胆的保温效果,又有金属内胆的安全性能,不易碎;
高性价比真空玻璃内胆杜瓦瓶,保温效果好,可连续测试10个以上样品;
金属内胆杜瓦瓶,可获得准确结果,安全系数极高;

运行状态直观显示

仪器前面板上配置状态显示系统,显示仪器的工作原理图,每个阀位增加LED灯指示电磁阀的通断,在实验过程中可直观判断仪器的运行过程。

可集联与远程访问

仪器通讯接口为LAN口,可实现一台电脑作为上位机集联控制,可远程访问和控制该上位机电脑。

独立脱气系统

标配完全独立的脱气系统,吹扫和真空两种方式可选,对样品的预处理更智能灵活,更方便。

Software

软件控制

全新开发的DX 400控制软件是在Windows平台上实现操作控制、数据采集、计算分析和报告预览的智能化软件。

测试结果实时计算

测试界面上动态显示每个样品的吸附过程,吸附峰实时显示,每个样品的BET比表面积实时计算。

DX400软件

仪器控制过程实时记录储存

Message窗口可切换显示,实时记录仪器实验控制过程和软件手动操作信息,方便工程师对异常数据的分析和远程诊断。

典型分析实例

BET比表面积重复性<1%

样品测试次数测量值平均值重复值
G919.1649.190.31%
29.222
39.213
49.158
59.162
69.128

BET比表面积重复性<1%

样品测试次数测量值平均值重复值
石墨11.83971.8450.24%
21.8462
31.8482
41.8518
51.8467
61.8393

超小比表面积0.1 m2《》/g的重复性达到0.01m2/g

样品测试次数测量值平均值重复值
正极材料10.12350.1220.0033
20.1189
30.1251
40.1159
50.1242
60.1228

BET比表面积稳定性<1%

样品测试次数测量值平均值稳定性
正极材料19.1680.1860.26%
39.213
79.208
159.158
309.162
609.208

BET比表面积平行性<1%

样品不同设备测量值平均值稳定性
G919.1569.1830.28%
29.163
39.213
49.158
59.192
69.218

产品参数

通用参数DX 400系列
测试原理流动色谱法低温氮气吸附
测试气体高纯氮气(99.999%)+高纯氦气(99.999%)或高纯3:7氮氦混气(99.9999%)
检测器精确到0.1mV的定制型热导池,测试0.1 m2/g的样品可精确到0.01 m2/g。
比表面积范围>0.01 m2/g,标准样品测试重复性<1%,平行性<1%,长时间稳定性<1%
分析站4个
主机规格长700mm×宽410mm×高785mm,重量约30 Kg
环境温度要求15-35℃
环境湿度要求20%-80%,不发生冷凝的环境湿度
电源要求100-240VAC,50/60HZ,**功率200W
推荐应用领域磷酸铁锂、三元、石墨、钴酸锂、锰酸锂等电池正负极材料,以及其他小比表面积材料。


型号DX 440DX 420DX 410
测试功能单点BET比表面积测试直接对比法,单点,多点BET比表面积测试
单点BET测试效率4个样品 5min4个样品 10min4个样品 20min
氮气分压范围0.30.05-0.35(多点BET)


产品咨询

JW-DX 400 比表面积测定仪

JW-DX 400

请填写您的姓名:*

请填写您的电话:*

请填写您的邮箱:*

请填写您的单位/公司名称:*

请提出您的问题:*

您需要的服务:

发送

中国粉体网保护您的隐私权:请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站,表明您接受 我们的使用条款

JW-DX 400 比表面积测定仪 - 6640
北京精微高博比表面测试仪 的其他产品

FLOW

比表面积测定仪
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号