Planum-3000平面光学元件光谱分析仪用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射光谱，可进行多角度**反射率、相对反射率、透射率测量，偏振光测量，膜性测量，颜色测量等。

仪器特点：

自定义多角度透反射测量

测量对象：

        棱镜                           平行平板、平晶

    滤光片                             红外截止片

技术参数：