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仪器简介:
本款碳同位素分析仪是一款整合第五代光腔衰荡光谱技术和前端燃烧氧化技术测量碳同位素比率和总碳的分析系统。碳方案解决成为目前很简单实用的同位素分析系统,相比同位素比质谱仪(IRMS)也是客户拥有成本极低的同位素分析系统。可用于固相和气相样品分析。
前端燃烧氧化装置产生的气体导入前处理装置,然后通过软件控制输送到分析仪完成同位素比率及浓度测量。不需要引入已知同位素比率的参比气体,允许在样品序列上引入参比气体,以便为研究者能更好地对测量结果与质谱仪进行对比,完成自质谱仪到同位素分析仪使用观念的转变。
技术参数:
测量技术:第五代光腔衰荡光谱技术
δ13C:典型精度0.2-0.3 σ;确保精度<0.3 σ*
样品量:≥250 μgC(确保精度);400 μgC(典型精度)
测量范围:0-3600ppmv(确保精度在3000ppm)
测量间隔:9min(除非前端预处理装置限制)
载气流速:<90 mlmin,@760torr n2
取样压力:250~1000托
取样湿度:<99% R.H,无冷凝@40°C,无需干燥
输出:RS-232,网卡,USB, 模拟输出(可选)4-20mA / -10~10V
重量:73.8kg
耗电:80-120VAC,50/60 Hz & 220,50 Hz
主要特点:
高精度测量腔室体积:30mL
整合前端燃烧氧化技术和第五代光腔衰荡光谱技术
准确测量δ13C 和TC(TIC)
高通量测量
ppb级超高灵敏度、精确度和准确度,基本无漂移
安装快捷,方便简单-整个系统的配置仅需要几分钟的时间
固体样品自动进样装置,可无人值守全自动进行测量
购买成本比EA-IRMS少2-3倍的,无后期投入
BELMASS II
BSD-MASS
Master 400
EXPEC 5231
BELMASS
ZQJ-3000型
L600
HESZKAT800
ICP-MS 2000系列
热分析 - 四极杆质谱仪 QMS 403 Aёolos® Quadro 联用
DEMS