粉体行业在线展览
粉体特性测试仪

日本冈田精工okadaseiko非接触式微量粉体特性测试仪MPC-200
MPC-200
1930

日本 Fujiwork FT‑D200(H) 薄膜厚度连续测量仪 静电卡盘用
FT‑D200(H)302

日本 SUN-KAGAKU 太阳科学 CR-100 多功能紧凑型物性测定仪(质构仪 / 流变仪)
CR-100292

日本 Fujiwork 精密薄膜测厚仪 HKT‑Master0.1BD/BB
HKT‑Master0.1BD/BB281

日本 Fujiwork 经济型薄膜测厚仪 HKT‑Lite0.1
HKT‑Lite0.1282