XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及**的称量精度和稳定性。

• XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术，可在高温、高压条件下进行重量吸附分析，也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

产品特点

• 外部感知技术，把敏感元件置于天平室外部，允许腐蚀性和易燃气体的操作

• 几何对称、精密设计的微量天平

• 内部容积*小化

• 大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg

• 宽动态称量范围（0-200毫克）

• 操作压力高达200bar

• 单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量

• 无需重新归零或原位校准

• 采用IGA特有的终点预测方法

• 全金属结构由高品质的VCR装配

• 模块化设计，与所有配件兼容且可升级

产品应用

XEMIS的应用领域:

• 气体吸附分析

• 等温线的测定

• 动力学分析

• 热力学研究

• 储氢

• 甲烷存储

• 二氧化碳封存

• 气体的分离与纯化

• 超临界气体吸附

• 页岩气和煤层沼气研究

• 离子液体中的气体溶解度测量

• 化学吸附研究

• 化学反应的研究 (例如 氧化/氮化)

• 金属有机骨架(MOFs)/多孔配位框架

• 活性炭、碳分子筛和模板碳

• 沸石和沸石类物质

• 多孔聚合物

该XEMIS可广泛应用于不同的吸附气体。如有具体要求请与我们联系。