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纳米粒度及Zeta电位分析仪

纳米粒度及Zeta电位分析仪

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澳谱特科技(上海)有限公司

上海

产品规格型号
参考报价:

面议

品牌:

澳谱特科技

型号:

纳米粒度及Zeta电位分析仪

关注度:

893

产品介绍

Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小,其表面的晶体结构发生变化,从而在电学、光学和化学活性等方面表现出独特的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数,准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数,Zeta电位越高,胶体系统就越稳定,反之,Zeta电位越低,胶体系统稳定性就越差,因此通过测量和调整体系的Zeta电位,就可以控制胶体的稳定性。因此,Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪广泛应用于产品开发、生产、质量控制以及科学研究。

技术类型

Zetatronix 939系列 查看详情

采用多角度动态光散射技术,提供更高分辨率的粒度测量结果

Zetatronix 929系列 查看详情

采用背向动态光散射技术,可以测量高浓度样品的粒度

Zetatronix 919系列 查看详情

采用经典动态光散射技术测量粒度

经典动态光散射(DLS)


背向动态光散射(BSDLS)


多角度动态光散射(MADLS)



测量角度

11°、90°、175°

11°、175°

11°、90°

测量类型




粒度

Zeta电位

分子量


温度/时间趋势


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