粉体行业在线展览
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MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。
·光栅控制,增强深度分析能力·所有能量范围内,离子行程的*小扰动,及恒定离子传输·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器
·质量数范围: 300amu,500amu,1000amu
·检测器:离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps
·质量过滤器: 3F四级杆
·杆直径: 9mm
·**加热: 250℃
·离子源:电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝
BELMASS II
BSD-MASS
Master 400
EXPEC 5231
BELMASS
ZQJ-3000型
L600
HESZKAT800
ICP-MS 2000系列
热分析 - 四极杆质谱仪 QMS 403 Aёolos® Quadro 联用
DEMS