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RAVIIS-300快速自动微颗粒成像分析系统
面议
伯锐锶
RAVIIS-300快速自动微颗粒成像分析系统
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RAVIIS-300快速自动微颗粒成像分析系统
是一款快速智能、全自动化、且拥有完全自主知识产权的50KV扫描透射电子显微镜(STEM)。满足病毒形态观察、疫苗细胞库安全性检测及疫苗研发制造、临床病理组织切片研究、生物科研脑神经连接组学等领域的应用需求。
● 分辨率 1.0nm@50kV(1nA)
● 单束STEM成像速度100M像素/秒
● 10ns/像素 驻留时间
● 全自动样品载入系统
产品特点
1、超高分辨率
全新光学系统设计,分辨率1.0nm@50kV(1nA),可获得兼具高分辨率和大视野(畸变小于1‰)的图像
2、超高速成像
高速STEM探测器 ,图像采集速度100M/S
3、全自动样品载入与导航
配备全自动样品载入系统(5个样品同时载入),全新的样品加载方案、便捷的样品信息查询功能,实现了样品管理自动化
4、稳定可靠
7*24小时自动连续图像采集
核心技术
● 高分辨率高亮度电子光学系统
50KV下100M/s STEM超高速成像。系统具备视频级(25fps@2k*2k)纳米尺度分析能力,在保持高分辨率情况下,可进行全自动无遗漏信息采集。
● 高灵敏度直接电子探测器
RAVIIS-300所有探测器均采用独立设计的直接电子(Direct Electron)探测器,电子直接转换为电信号,因此探测效率高达80%以上,拥有更高的信噪比(SNR)。
● 大场与高分辨成像快速切换
创新的电子光学设计,大场成像与高分辨成像独立运行,快速切换,颗粒精准识别定位,高分辨迅速成像。
● 高速高稳定机械运动平台
采用无震动运动平台,X=±4mm, Y=±4mm,定位精度1um。
● 专为全自动化微颗粒检测设计的光学系统
传统透射电镜视场较小,无法满足大量纳米颗粒的检测和识别工作。RAVIIS-300基于半导体工业级电子束检测设备理念设计,实现高通量纳米颗粒检测能力;
RAVIIS-300通过对快速成像技术、无震动样品台、高速电子光学系统以及AI技术等创新设计,实现了超高速成像,成像速度可达到传统电镜的数十倍以上。
● 全自动化设计
开机巡检、导航定位、一键对中、对焦调整、移位纠偏等一系列动作自动化,实时聚焦跟踪系统由硬软件配合组成。利用精准的电子偏转实现样品图像的精准定位,从而实现结果的高重复性。它不仅免除了耗费大量精力来调整寻找样品位置,同时利用AI智能实现自动检测,*终实现无人值守连续工作。
● 可针对不同客户量身定制软件功能
借助现代人工智能、AI算法等帮助试验人员进行分析,配合从前端样品制备,到电镜自动全切片成像拍摄、拼接后生成为高分辨地图集,再到后端数据处理,AI 智能分析可用于颗粒自动检测和分类,为用户提供完整的解决方案。
基本参数
技术参数 | RAVIIS-300 |
分辨率 | 1.0nm@50kV |
成像模式 | BF/DF(明场/暗场) |
STEM模式着陆电压 | 50KV |
探测器类型 | 半导体直接探测器 |
放大倍数 | 1X-500X(低倍率光学拍摄) |
电子枪 | Schottky型热场发射 |
电子束流 | 50pA至100nA |
样品台 | X=±4mm, Y=±4mm,定位精度1um |
成像通量 | 在0.5小时内以4nm pixel可完成1x1mm²的区域成像 |
极快速成像采集速度 | 100MB/s, 单张24k x 24k图像只需6.5s拍摄 |
采集方式 | STEM 明场或者暗场采集 |
高通量电镜设备控制软件 | 具备自动图像优化,智能聚焦跟踪,全景光学导航,超大面积全自动采集功能 |
大场与高分辨成像快速切换 | 创新的电子光学设计,大场成像与高分辨成像独立运行,快速切换,颗粒精准识别定位,高分辨迅速成像 |
图像分析处理软件 | 超大视野成像,100um@25nm,AI Server高效率识别与测量 |
高通量颗粒定量检测能力 | 全新的载样系统及自动化样品管理系统,为定量检测保驾护航 |
场发射扫描电镜 SEM5000
ZEM系列台式扫描电镜-原位拉伸一体机
Quattro-
Pharos-STEM
Hitachi FlexSEM 1000
EM-30+
KYKY-EM8000
Veritas
Transcend II
略
美国Fauske 快速扫描绝热量热仪-ARSST
材料研究的 Axio Imager 2