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锂电池铜锌铁异物自动分析ParticleX Battery
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锂电池铜锌铁异物自动分析ParticleX Battery
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ParticleX Battery 是飞纳推出的自动化分析系统,可用于锂电池铜、锌、铁等金属异物自动识别、分析和统计。
ParticleX Battery 基于扫描电镜与能谱分析方法,可自动识别、分析和统计铜、锌、铁等金属异物,适合锂电池原材料、正负极材料及生产质控环节的清洁度管控。
该系统具备自动杂质颗粒识别、自动高清图像采集、自动能谱成分分析和自动杂质颗粒分类等功能。具体配置和价格根据检测流程、样品类型及分析目标确定,可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议,并预约试样。
产品特点:
1. 面向锂电池清洁度分析和金属异物管控。
2. 基于扫描电镜 + 能谱法进行颗粒识别和成分分析。
3. 可自动识别、分析和统计铜、锌、铁等金属异物。
4. 支持自动杂质颗粒识别。
5. 支持自动高清图像采集。
6. 支持自动能谱成分分析。
7. 支持自动杂质颗粒分类。
8. 支持官方选型咨询,可预约试样。
应用领域:
可用于铜锌铁异物自动分析、锂电生产质控、金属颗粒识别、清洁度分析和第三方检测。
技术参数:
产品型号:ParticleX Battery
产品全称:ParticleX Battery 锂电清洁度
产品类型:全自动锂电清洁度分析系统
光学放大:3 - 16 X
电子光学放大:200,000 X
分辨率:优于 8 nm
电子枪:CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时
光学导航相机:彩色
加速电压:基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
高级模式:4.8 kV - 20.5 kV 连续可调
真空模式:低 / 中 / 高三种模式
探测器:背散射探测器、能谱探测器
可选探测器:二次电子探测器
全自动功能:全自动锂电清洁度分析
Pharos-STEM
NANOFABRICATOR™ LITE
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
Phenom Pro
ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
N80
N70
N60
ZEM15C台式扫描电镜
Phenom XL
Prisma E SEM
Apreo SEM
场发射扫描电镜 SEM5000
Hitachi FlexSEM 1000
EM-30+
CUBE II
EM81
美国Fauske 快速扫描绝热量热仪-ARSST
材料研究的 Axio Imager 2
第四代 Phenom Pure